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长春海洋光电有限公司


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  产品展示
 
 激光系列产品 >> 激光光束分析仪 >> BeamMap2-CM狭缝扫描式光束质量分析仪
 
产品编号:
10101327916
产品名称:
BeamMap2-CM狭缝扫描式光束质量分析仪
规  格:
产品备注:
产品类别:
激光系列产品
 
   产 品 说 明

产品型号:BeamMap2-CM

产品ID:S-BMS2-CM4-Si-5

品牌名称:美国Dataray

 

DataRay的BeamMap2代表了一种完全不同的实时光束分析方法。它通过允许沿光束行程的多个位置进行测量,扩展了Beam'R2的测量功能。这种实时狭缝扫描系统在旋转圆盘上的多个z平面中使用XY狭缝对,以同时测量四个不同z位置处的四个光束轮廓。 BeamMap2独特的设计最适用于焦点位置,M2,光束发散和指向的实时测量。

 

产品特点:

 

· 190至1150 nm,Si探测器

· 650至1800 nm,InGaAs 探测器

· 1000至2300或2500 nm,InGaAs(扩展)测器

· 光束直径~100 μm至~3 mm(1.5 mm加长InGaAs)

· 25 μm狭缝对与Si;0.1到2 μm采样间隔

· 50 μm狭缝对,带 InGaAs;0.1到2 μm采样间隔

· 实时±1 mr实时发散和指向测量精度

· 端口供电,USB2.0灵活的3米电缆没有电源砖

· 0.1 μm采样和分辨率

· 线性和对数X-Y轮廓

· 轮廓缩放和狭缝宽度补偿

· 实时多Z平面扫描狭缝系统

· 实时XYZ轮廓,焦点位置

· 实时M2、发散、准直、对准

 

产品参数:

产品参数

 

波长

Si detector: 190 to 1150 nm

InGaAs detector: 650 to 1800 nm

Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm

Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm

扫描光束直径

Si detector: 5 μm to 4 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

InGaAs detector: 10 μm to 3 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

InGaAs (extended) detector: 10 μm to 2 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

平面间距(CM4 models)

5 mm: -5, 0, +5, +20 mm

平面间距 (CM3 models)

10 mm: -10, 0, +10, 0 mm

束腰直径测量

Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat

1/e2 (13.5%) width

User selectable % of peak

Knife-Edge mode* for very small beams

束腰位置测量

X、Y 和 Z 方向上 ± 20 μm 最佳

测量源

连续波;脉冲激光,Φ μm ≥ [500/(PRR in kHz)]

分辨率精度

0.1 μm或扫描范围的0.05%±< 2% ± = 0.5 μm

M2 测量

1 to > 20, ± 5%

发散/准直,指向

1 mrad最好

最大功率和辐照度

1 W Total & 0.5 mW/μm2

增益范围

1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range

显示图形

X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16

更新率

~5 Hz

平均

用户可选择运行平均值(1 到 8 个样本)

最低电脑要求

Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port

* Knife-Edge mode需要 CM3 型号

 

点击数:135  录入时间:2022/10/10 【打印此页】 【关闭
 
 
 

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